Сканирующий микроскоп FEI Quattro

Тип микроскопа

Сканирующий

Сотрудник хорошо проконсультировал, мало кто разбирается в узконаправленном оборудовании, приятно удивлена

Смотреть отзывы

Написать в Whatsapp

Уточнить цену

НАШЛИ ДЕШЕВЛЕ?
вернем разницу в цене

ВЗЯТЬ В АРЕНДУ
на сутки, неделю или месяц

Поверка и настройка
входит в стоимость

Доставка
от 3-х дней

В наличии

Описание
Особенности
Характеристики
Доставка
Отзывы
Инструкции

Описание

Сканирующий микроскоп FEI Quattro

Электронный сканирующий микроскоп Thermo Scientific™ Quattro SEM — это многофункциональная высокопроизводительная система с высоким разрешением и уникальными характеристиками. Прибор предназначен для широкого круга исследований образцов на наноуровне в их естественном состоянии без какой-либо пробоподготовки. Благодаря катоду Шоттки с полевой эмиссией, микроскоп имеет высокое разрешение (до 0,8 нм), которое с использованием передовых сверхчувствительных детекторов сочетается с отличным контрастом изображения. Три вакуумных режима — высокий вакуум, низкий вакуум и режим естественной среды (ESEM) — позволяют анализировать практически любые образцы, в том числе непроводящие, газящие, а также подверженные разрушению под электронным лучом. Благодаря возможности работы во влажной среде, в т.ч. в точке росы (100% влажность), режим ESEM является уникальным и незаменимым инструментом при работе с жёсткими диэлектриками, в особенности при больших увеличениях (более 50 000 крат), а также жирными и влажными образцами. Аналитическая камера внушительных размеров с большим количеством портов для установки различных аналитических приставок (до 2-х EDS, WDS, EBSD, CLA, Raman и т.д.) и устройств для динамических экспериментов (нагрев, охлаждение, крио и т.д.) в сочетании с уникальной вакуумной системой и многофункциональным предметным столом делают Quattro SEM универсальной системой для решения мультидисциплинарных прикладных и исследовательских задач

Особенности

In situ исследование материалов в их естественном состоянии: уникальный FEG-SEM с высоким разрешением с режимом естественной среды (ESEM) .Минимизируйте время подготовки образца: низкий вакуум и режим ESEM позволяют получать изображения без зарядки с непроводящих и/или гидратированных образцов.
Получайте всю информацию из любых образцов, используя одновременное отображение в SE и BSE во всех режимах работы.
Анализ при температурах от -165 ° С до 1400 ° С с помощью крио, Пельтье и нагревательного столика для образцов.
Отличные аналитические возможности с камерой, которая позволяет устанавливать до трех детекторов EDS (два из них разведены на 180 °), WDS и копланарной EDS / EBSD.
Анализ непроводящих образцов: точные EDS и EBSD адаптированные под низкий вакуум, создаваемый с помощью сквозной откачки через линзу Quattro.
Удобный и точный эвентцентрический столик с диапазоном наклонов в 105 ° для наблюдения образца с любых точек.
Простое в использовании, интуитивно понятное программное обеспечение с руководством пользователя и функцией отмены.
Работайте быстрее с меньшим количеством щелчков мыши.
Новые инновационные решения: выдвижной детектор катодолюминесценции RGB (CL), нагревательный стол для высокого вакуума 1100 ° C и AutoScript на основе Python (API).

Характеристики

Тип микроскопа Сканирующий
Тип образцов Влажные, Металлы, Микроэлектроника, Минералы, Непроводящие
Разрешение от 1
Разрешение до 2.9
Область сканирования от 0
Область сканирования до 110
Характеристики электронной пушки

Высокий вакуум с оптимальной рабочей дистанцией- 0,8 нм при 30кВ (STEM)

1,0 нм при 30 кВ (SE)
2,5 нм при 30 кВ (BSE)
3,0 нм при 1 кВ (SE)

Высокий вакуум с оптимальной рабочей дистанцией, режим торможения пучка

3,0 нм при 1 кВ (BSED)
2,1 нм при 1 кВ (ICD)
3,1 нм при 200 В (ICD)

В режиме низкого вакуума, оптимальной рабочей дистанцией

1,3 нм при 30 кВ (SE)
2,5 нм при 30 кВ (BSE)
3,0 нм при 3 кВ (SE)

В режиме естественной среды (ESEM)

1,3 нм при 30 кВ (SE)

Предметный столик

Вцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик
Перемещение в плоскости XY: 110 x 110 мм
Воспроизводимость результатов: < 3,0 мкм (при наклоне 0°)
Моторизованное перемещение по оси Z: 65 мм
Поворот: n x 360°
Наклон: -15° / +90°
Максимальная высота образца: Расстояние 85 мм до точки Вцентрика
Максимальный вес образца: 500 г при любом положении предметного столика (до 2 кг при наклоне 0°)
Максимальный размер образца: Ø122 мм при полном вращении (для образцов большего размера вращение ограничено)
Стандартно поставляется уникальный стол-держатель для различных задач, на который можно установить до 18 стандартных столиков образцов (диам. 12 мм), 3 скошенных стойки, образцы поперечных сечений и 2 наклонных многостоечных держателей* (38° и 90°), при этом не требуется инструментов для установки образцов.
Каждый из наклонных многостоечных держателей может использоваться с 6 S/TEM сетками
Держатель печатных плат и другие держатели по заказу

Детекторы

Quattro обнаруживает до четырех сигналов одновременно от любого комбинация доступных детекторов или сегментов детектора:
ETD - детектор Everhart-Thornley SE
Датчик низкого вакуума SE (LVD)
Газовый SED (GSED) (используется в режиме ESEM)
ИК-камера для просмотра образца в камере
Nav-Cam ™: цветная оптическая камера в камере для навигации по образцу *
DBS - выдвижные или линзовые сегментированные поднесущие Направленный детектор BackScatter *
DBS-GAD - Газоаналитический детектор, установленный на объективе *
STEM 3+ - выдвижная сегментированная (BF, 4 DF, 6 HADF)
Сканирование Детектор передачи *
WetSTEM ™ - столик Пельтье интегрированный с STEM для наблюдения тонких влажных образцов
RGB-CLD - цветной детектор катодолюминесценции CL *
Встроенный детектор (ICD) для режима торможения пучка *

Доставка

Отзывы

Написать свой отзыв

Ксения

Плюсы

Минусы

Комментарий

Сотрудник хорошо проконсультировал, мало кто разбирается в узконаправленном оборудовании, приятно удивлена

Инструкции

Сканирующий электронный микроскоп Quattro_rus.pdf

Сканирующий микроскоп FEI Quattro

Уточнить цену

Гарантия

1 год

Посмотрите похожие товары по категориям

...

Сопутствующие товары

Шлифовально-полировальный станок Tegramin-20

Уточнить цену

Универсальный твердомер DuraVision-30

Уточнить цену

Нанотвердомер и скрэтч-тестер PB1000

Уточнить цену

Трибометр Т50

Уточнить цену

Профилометр ST400

Уточнить цену

Приобрести Сканирующий микроскоп FEI Quattro в Москве

Компания ЕЦНК занимается продажей качественного оборудования для осуществления контроля качества выпускаемых изделий на производстве. На сайте ECNK.ru вы можете заказать Сканирующий микроскоп FEI Quattro по самой выгодной цене в Москве.
Мы предлагаем три варианта доставки: самовывоз, курьером или до терминала “Деловых линий” в вашем городе. Наш адрес: ул. Вавилова, 79. Режим работы: Пн.-Пт. с 9:00 до 18:00.
Для того, чтобы оформить доставку по Москве:

позвоните по телефону +7 (499) 703-39-69;
напишите в WhatsApp на номер +7 987 295-40-71;
отправьте письмо на электронную почту ecnk@ecnk.ru.

Кроме того, вы можете заказать бесплатный звонок специалиста. Оставьте заявку, укажите ФИО, номер телефона и адрес электронной почты.